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河南南阳西峡FOTRIC343X地暖热像仪——使用

发布:2023/3/23 10:50:53 来源:zcxh2021
河南南阳西峡FOTRIC343X地暖热像仪——使用 Fotric 321Q FlukTiS20+/TiS20+MAX Fotric 优势 特征利 8 个测温点
视场角 FOV:46°×35°°
空间分辨率(IFOV):6.44mrad
成像距离:0.1m
热灵敏度:<0.05℃@30℃
温度量程:-20℃—+550℃
测温精度:±2℃或±2%(取大值)
测温工具:8个点、4个区域、1条线
帧频:30Hz
对焦方式:快捷的手动对焦
河南南阳西峡FOTRIC343X地暖热像仪——使用 u 支持北斗/GPS/GLONASS卫星,支持方向 ——半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。热像优势:1.由于红外热成像技术是一种对目标的
MagicThermal?细节增强成像技术:实时热像画面中,通过触控的方式呈现目标区域的彩色热成像,其他区域则以黑白热成像显示
全新优化的画中画:在可见光图片上叠加任意大小的热像图,可以任意和调整热像图覆盖位置
触控温宽模式:根据手指触控图像自动调节画面温宽,支持触控选择热像图温宽的值和值
相间温差计算:自动计算出电气设备的相间温差数值
全屏温升自动计算功能:自动计算出整个热像画面的温升数值,屏蔽环温干扰
分区发射率:支持每个测温区域单独设置发射率
自动命名热像图:扫描二维码命名;键盘输入命名
WiFi-FTP数据快传:支持无线连接至PC,采用FTP协议远程传输热像数据,传输速率可达100Mbps
全制式系统:支持北斗/GPS/GLONASS卫星,位置信息可以保存至每张静态热像图中
收藏标注:对感兴趣的热像图可以添加收藏标注,并且在热像仪的图库内快速查找到标注过的图片
声音报:可以分区单独设置报阀值,支持高温报和低温报
录制:本机全辐射热像录制、本机非辐射热像录制,连接PC录制全辐射热像
显示屏:5英寸1280*720像素大猩猩防爆盖板玻璃的IPS LCD触摸显示屏
存储介质:32GB SD卡
电池使用时间:单块连续使用时间≥4小时
河南南阳西峡FOTRIC343X地暖热像仪——使用您好,我司是一支技术力量雄厚的高素质的发群体,为广大用户高品质产品、完整的解决方案和上等的技术服务公司。主要产品有FX3GA/FX3SA/FX3U三菱plc北京、美国LEE防火涂料涂层测厚仪、美国RAYTEK雷泰测温仪等。本企业坚持以诚信立业、以品质守业、以进取兴业的宗旨,以更坚定的步伐不断攀登新的高峰,为民族自动化行业作出贡献,欢迎新老顾客放心选购自己心仪的产品。我们将竭诚为您服务!
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